[发明专利]中子栅格、中子栅格层叠体、中子栅格装置及中子栅格的制造方法有效

专利信息
申请号: 201780020012.2 申请日: 2017-03-28
公开(公告)号: CN109073770B 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 福田幸洋;足达祥卓;中岛信昭;日塔光一 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝高新材料公司
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00;G01N23/05;G01T1/29;G01T3/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈建全
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 中子栅格具备:栅格部,所述栅格部具有使透过对象物的第1中子的至少一部分透过的多个间隔物和将被对象物散射的第2中子的至少一部分吸收的多个吸收体,间隔物及吸收体沿着第1方向交替地排列且沿着与第1方向交叉的第2方向延伸;和一对覆盖材,所述一对覆盖材沿着与第1方向及第2方向交叉的第3方向来夹持栅格部且使第1中子的至少一部分及第2中子的至少一部分透过。间隔物与吸收体之间的热膨胀系数差为±9×10‑6/℃以内;或者间隔物的杨氏模量为100GPa以上。
搜索关键词: 中子 栅格 层叠 装置 制造 方法
【主权项】:
1.一种中子栅格,其具备:栅格部,所述栅格部具有使透过对象物的第1中子的至少一部分透过的多个间隔物和将被所述对象物散射的第2中子的至少一部分吸收的多个吸收体,所述间隔物及所述吸收体沿着第1方向交替地排列且沿着与所述第1方向交叉的第2方向延伸;和一对覆盖材,所述一对覆盖材沿着与所述第1方向及所述第2方向交叉的第3方向来夹持所述栅格部且使所述第1中子的至少一部分及所述第2中子的至少一部分透过,其中,所述间隔物与所述吸收体之间的热膨胀系数差为±9×10‑6/℃以内;或者所述间隔物的杨氏模量为100GPa以上。
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