[发明专利]二次电池劣化估计装置和二次电池劣化估计方法有效
| 申请号： | 201780020780.8 | 申请日： | 2017-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN108885242B | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 岩根典靖;光山泰司 | 申请（专利权）人： | 古河电气工业株式会社;古河AS株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/367 | 分类号： | G01R31/367;G01R31/392;H01M10/42;H01M10/48;H02J7/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 能够准确地估计各种二次电池的劣化，并且即使在产生了电池单元之间的偏差的情况下，也能够准确地估计二次电池的劣化。一种二次电池劣化估计装置(1)，其估计二次电池(14)的劣化，该二次电池劣化估计装置(1)的特征在于，具有：求出单元(CPU10a)，其求出构成二次电池的等效电路的成分；存储单元(RAM 10c)，其存储二次电池的使用状态的历史；以及估计单元(CPU10a)，其根据构成等效电路的成分来估计二次电池的劣化状态，估计单元根据存储单元所存储的使用状态的历史来对基于构成等效电路的成分的估计过程或者估计结果进行修正。 | ||
| 搜索关键词： | 二次 电池 估计 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种二次电池劣化估计装置，其估计二次电池的劣化，该二次电池劣化估计装置的特征在于，具有：求出单元，其求出构成所述二次电池的等效电路的成分；存储单元，其存储所述二次电池的使用状态的历史；以及估计单元，其根据构成所述等效电路的成分来估计所述二次电池的劣化状态，所述估计单元根据所述存储单元所存储的所述使用状态的历史，修正基于构成所述等效电路的成分的估计过程或者估计结果。
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