[发明专利]激光装置及光声测量装置有效

专利信息
申请号: 201780020782.7 申请日: 2017-02-28
公开(公告)号: CN108886231B 公开(公告)日: 2020-06-19
发明(设计)人: 石井裕康;广田和弘 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: H01S3/115 分类号: H01S3/115;A61B8/13;G01N29/06;G01N29/24;H01S3/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 韩香花;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种激光装置及光声测量装置,激光装置及具备该激光装置的光声测量装置积极利用Q开关的振动,提高了脉冲激光束的输出。一种激光装置(1),在对Q开关(57)施加了第1电压的状态下向激光介质(51)照射激发光,在激发光的照射之后,将针对Q开关(57)的施加电压从第1电压改变为第2电压而射出脉冲激光束,所述激光装置中,将通常动作时的第1电压的施加开始时刻设定为因Q开关(57)的振动造成周期性变化的脉冲激光束的强度成为最大的时刻。
搜索关键词: 激光 装置 测量
【主权项】:
1.一种激光装置,其具备:激发光源,其射出激发光;激光介质,其接受从所述激发光源射出的所述激发光的照射而射出激光;谐振器,其包括夹着所述激光介质的一对反射镜,使所述激光在所述一对反射镜之间谐振而射出脉冲激光;Q开关,其配置在所述谐振器的光路上,根据施加电压而改变所述谐振器的Q值,且使被施加了第1电压的情况下的所述谐振器的Q值比被施加了与所述第1电压不同的第2电压的情况下的所述谐振器的Q值低;Q开关驱动部,其对所述Q开关施加所述第1电压及所述第2电压而驱动所述Q开关;及控制部,其对所述激发光源及所述Q开关驱动部进行控制,在对所述Q开关施加了所述第1电压的状态下向所述激光介质照射所述激发光,在照射了所述激发光之后,将针对所述Q开关的施加电压从所述第1电压改变为所述第2电压,由此射出所述脉冲激光,在通常动作时,所述控制部通过所述第1电压的电压施加而使所述Q开关振动,在从所述激发光的射出开始起经过了预先设定的延迟时间的时刻对所述Q开关施加所述第2电压,当以预先设定的时间宽度改变了预先设定的所述第1电压的施加开始时刻时,所述通常动作时的所述第1电压的施加开始时刻被设定为起因于所述Q开关的振动而周期性地变化的所述脉冲激光的强度成为最大的时刻。
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