[发明专利]测量池结构和光学分析装置在审

专利信息
申请号: 201780023352.0 申请日: 2017-02-27
公开(公告)号: CN109073535A 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 森田敏夫;木崎宽子;蔵本久典 申请(专利权)人: 株式会社堀场先进技术
主分类号: G01N21/05 分类号: G01N21/05
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 周善来;李雪春
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供测量池结构和光学分析装置,能使测量池的安装和拆卸操作变得容易,从而能提高可用性,并能提高测量池的安装位置的精度。所述测量池结构包括:导入试样的测量池(2);以可插拔的方式保持测量池(2)的池保持体(7);以及介于测量池(2)和池保持体(7)之间设置,使测量池(2)相对于池保持体(7)在插拔方向上滑动的滑动机构(8)。滑动机构(8)具有形成在测量池(2)或池保持体(7)的一方上的凹部(81)以及形成在另一方上的凸部(82)。
搜索关键词: 测量池 保持体 光学分析装置 滑动机构 可用性 可插拔 滑动 凹部 插拔 拆卸 凸部
【主权项】:
1.一种测量池结构,其特征在于,所述测量池结构包括:测量池,导入试样;池保持体,以可插拔的方式保持所述测量池;以及滑动机构,使所述测量池相对于所述池保持体在插拔方向上滑动,所述滑动机构包括:凹部,形成在所述测量池或所述池保持体的一方上;以及凸部,形成在所述测量池或所述池保持体的另一方上,与所述凹部对应。
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