[发明专利]绕线检查方法及绕线检查装置有效
| 申请号： | 201780023964.X | 申请日： | 2017-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN109075677B | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 水野健;大田顺一;中田智;网干稔;长谷川治之 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | H02K15/095 | 分类号： | H02K15/095;H02K11/20 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 何立波;张天舒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在将绕线线圈(1)形成于芯片(20)的固定件(10)的绕线检查方法中，具有：第二取得工序(步骤ST8)，其是取得芯片(20)的绕线后的图像的工序；第二提取工序(步骤ST9)，其是从图像进行卷绕于芯片(20)的绕线线圈(1)的轮廓数据的提取的工序；以及第二判定工序(步骤ST12)，根据绕线线圈(1)的轮廓数据对绕线线圈(1)是否合格进行判定。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种绕线检查方法，其是将绕线线圈形成于芯片的固定件的绕线检查方法，在该绕线检查方法中，具有：第二取得工序，其是取得所述芯片的绕线后的图像的工序；第二提取工序，其是从所述图像进行卷绕于所述芯片的所述绕线线圈的轮廓数据的提取的工序；以及第二判定工序，根据所述绕线线圈的轮廓数据对所述绕线线圈是否合格进行判定。
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