[发明专利]具有交替比较器的ADC的DC偏移校准在审

专利信息
申请号: 201780025219.9 申请日: 2017-03-20
公开(公告)号: CN109155632A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: Y·阿藏科;N·G·加雅拉曼 申请(专利权)人: MACOM连接解决有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10;H03M1/00;H03M1/12
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 高伟;娄晓丹
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种基于ADC的数字输出在后台校准ADC中的交替比较器的DC偏移的系统和方法。校准逻辑使用两个计数器分别计数表示落入第一模拟范围和第二模拟范围的采样的ADC输出的出现,计数与多个采样的A/D转换并行进行。两个范围关于MSB参考电压对称,并且组合覆盖该比特的标称电压范围。基于两个计数之差与两个计数之和的比率导出DC偏移。校准逻辑可以交替地校准比较器。可以基于与其相关联的各个比特连续地校准每个比较器。
搜索关键词: 校准 比较器 采样 计数器 校准比较器 标称电压 参考电压 后台校准 数字输出 导出 并行 对称 关联 输出 覆盖
【主权项】:
1.一种校准模数转换器(ADC)的方法,所述方法包括:将模拟输入信号转换为第一多个数字值,其中,各个数字值包括M比特,M是大于0的整数;确定表示第一模拟范围内的所述模拟输入信号的采样的所述第一多个数字值中的数字值的第一计数;确定表示第二模拟范围内的所述模拟输入信号的采样的所述第一多个数字值中的数字值的第二计数;以及基于所述第一计数和所述第二计数确定所述ADC的第一直流(DC)偏移。
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