[发明专利]用于自动光学引线接合检验的自确定检验方法在审

专利信息
申请号: 201780027889.4 申请日: 2017-03-09
公开(公告)号: CN109155069A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 尹晓明;徐健 申请(专利权)人: 新加坡科技研究局
主分类号: G06T7/70 分类号: G06T7/70;H01L23/48;G06T7/00;G06K9/00
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 乔焱;曹正建
地址: 新加坡*** 国省代码: 新加坡;SG
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摘要: 一种用于自动光学引线接合检验的自确定检验方法包括:获得包括引线接合的半导体部件的图像;检测半导体部件图像上的多个引线接合;检测多个检测到的引线接合中的至少两者之间的引线;确定与至少一个检测到的引线接合和至少一个检测到的引线对应的关注检验区域;以及沿着关注区域检验检测到的引线接合。
搜索关键词: 引线接合 检测 半导体部件 自动光学 检验 图像 关注区域 检验检测 检验区域
【主权项】:
1.一种用于光学引线接合检验的系统,其包括:图像获取装置,其被配置成获得半导体部件的图像;图像处理电路,其被配置成检测所述半导体部件的所述图像上的多个引线接合;引线检测电路,其被配置成检测所述半导体部件的所述图像上的检测到的所述多个引线接合之间的引线;以及检验评估电路,其被配置成确定与至少一个检测到的引线接合对应的关注检验区域,并且沿着所述关注检验区域检验所述半导体部件的所述图像。
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