[发明专利]光学漂移校正系统以及方法在审

专利信息
申请号: 201780032149.X 申请日: 2017-04-21
公开(公告)号: CN109195735A 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 凯尔·C·尤迪斯;托马斯·R·阿尔布雷希特;德里克·诺瓦克;朴圣 申请(专利权)人: 分子前景公司
主分类号: B23B25/06 分类号: B23B25/06;B82Y35/00;G01B11/00;G01Q10/00;G01Q10/04
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 王建国;李琳
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种光学漂移校正系统以及方法,使用在镜子的曲面发生反射并在光敏检测器中检测到的光源光线对上述镜子相对于上述光源的移动进行检测。
搜索关键词: 漂移 校正系统 镜子 光敏检测器 光源光线 检测 反射 光源 移动
【主权项】:
1.一种光学漂移校正系统,其特征在于,包括:镜子,具有曲面;光源,配置在可向上述镜子的上述曲面发射光线的位置;多个光敏检测器,配置在可对从上述镜子的上述曲面反射过来的上述光线进行接收的位置;以及,检测回路,与上述光敏检测器电气连接,通过对从上述光敏检测器传送过来的信号进行处理而对上述镜子相对于上述光源的移动进行检测。
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