[发明专利]等离子体原子层生长装置及原子层生长方法有效

专利信息
申请号: 201780035111.8 申请日: 2017-04-24
公开(公告)号: CN109312460B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 鹫尾圭亮;松本竜弥 申请(专利权)人: 株式会社日本制钢所
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44;C23C16/455;H01L21/31;H01L21/316;H01L51/50;H05B33/04;H05B33/10;H05H1/46
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 南霆;程爽
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种能够提高形成在基板上的膜的品质的等离子体原子层生长装置。该等离子体原子层生长装置通过使得在保持基板(1S)的下部电极(BE)和与下部电极(BE)对向配置的上部电极(UE)之间产生等离子体放电,从而在基板(1S)上以原子层为单位而形成膜,其中,具有防附着构件(CTM),该防附着构件由在平面视角下与上部电极(UE)隔开间隔并包围着上部电极的绝缘体构成。
搜索关键词: 等离子体 原子 生长 装置 方法
【主权项】:
1.一种等离子体原子层生长装置,在基板上形成膜,其特征在于,具有:第一电极,其保持所述基板;第二电极,其与所述第一电极相对向,并且使得第二电极与所述第一电极之间产生等离子体放电;防附着构件,其由在平面视角下与所述第二电极隔开间隔并包围着所述第二电极的绝缘体构成。
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