[发明专利]传感器装置、用于校准传感器装置的方法和用于检测测量参量的方法

摘要

本发明涉及一种传感器装置（800）。该传感器装置（800）具有：具有至少一个缺陷的晶体（810）。该传感器装置（800）还具有用于用激励光（210）照射晶体（810）的光源（820）。该传感器装置（800）还具有至少一个用于给晶体（810）加载微波的微波天线（830）。该传感器装置（800）还具有用于探测晶体（810）的荧光信号（220）的至少一个信号特性的探测装置（840、850、855）。该传感器装置（800）还具有施加装置（860、870、880），其被构造用于将用于产生微波的微波信号和用于生成内部磁场的磁场信号施加到至少一个微波天线（830）上，其中能够利用所述内部磁场加载晶体（810）。

主权项

1.一种传感器装置（800），其具有以下特征：具有至少一个缺陷（105）的晶体（810）；用于用激励光（210）照射所述晶体（810）的光源（820）；至少一个用于给所述晶体（810）加载微波（430）的微波天线（830；1030）；用于探测所述晶体（810）的荧光信号（220）的至少一个信号特性的探测装置（840、850、855）；和施加装置（860、870、880），其被构造用于将用于产生所述微波（430）的微波信号和用于生成内部磁场（Bmod）的磁场信号（Imod）施加到所述至少一个微波天线（830；1030）上，其中能够利用所述内部磁场加载所述晶体（810）。