[发明专利]用于检查金属表面的方法和相关联的装置有效
| 申请号： | 201780038025.2 | 申请日： | 2017-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN109313148B | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 扬立克·高立耶 | 申请（专利权）人： | 法马通公司 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72 |
| 代理公司： | 北京鸿德海业知识产权代理有限公司 11412 | 代理人： | 王再芊 |
| 地址： | 法国库*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于检查金属表面(12)的方法。所述方法包括以下步骤：提供第一激光源(14)，所述第一激光源(14)设置为生成具有介于1000nm与1100nm之间的第一波长和高于1W的功率的第一激光束；提供第二激光源(16)，所述第二激光源(16)设置为生成具有介于1500nm与1800nm之间的第二波长和高于1W的功率的第二激光束；启动所述第一和第二激光源中的一个激光源并且将所述第一或者第二激光束传输至光学器件(18)的所述入口(22)；利用由所述光学器件所投射的所述激光束扫描所述金属表面(12)；获取由所述金属表面(12)所发出的红外线辐射的至少一个图像。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检查 金属表面 方法 相关 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于检查零部件(13)的金属表面(12)的方法，所述方法包括以下步骤：获得第一激光源(14)，所述第一激光源(14)设置为生成具有介于1000nm与1100nm之间的第一波长和大于1W的功率的第一激光束；获得第二激光源(16)，所述第二激光源(16)设置为生成具有介于1500nm与1800nm之间的第二波长和大于1W的功率的第二激光束；获得光学器件(18)，所述光学器件(18)包括用于激光束的入口(22)和设置为将所述激光束投射到所述金属表面上并且利用所述激光束(26)扫描所述金属表面(12)的装置；启动所述第一和第二激光源中的一个激光源并且将所述第一或者第二激光束传输至所述光学器件的所述入口；利用由所述光学器件所投射的所述第一或者第二激光束扫描所述金属表面(12)；获取由所述金属表面(12)所发出的红外线辐射的至少一个图像。
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