[发明专利]具有改善的热性能的磁共振成像有效

专利信息
申请号: 201780040967.4 申请日: 2017-06-28
公开(公告)号: CN109477874B 公开(公告)日: 2021-10-29
发明(设计)人: C·L·G·哈姆;M·K·特默 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G01R33/34 分类号: G01R33/34;G01R33/38;G01R33/385;G01R33/54
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 李光颖;王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种磁共振(MR)成像装置包括MR成像设备(10),所述MR成像设备(10)包括磁体(12)和发热部件(18、20、22、24)。冷却系统(30)使用来自空气冷却冷冻机(28)的冷水冷却所述发热部件。传感器(TS、VS)被配置为测量所述发热部件或所述冷却系统的热参数。MR控制器(40)控制所述MR成像设备执行MR成像检查程序(“检查卡”)(42)并响应于由所述一个或多个传感器测量的指示所述冷却系统具有不足的冷却容量的热参数来调整所述MR成像检查程序的执行。如果所述冷却系统(30)在当前空气温度下具有不足的冷却容量来耗散如由功率耗散模型(80)估计的热负荷,则所述MR控制器还可以在所述检查卡的执行之前调整所述检查卡。
搜索关键词: 具有 改善 性能 磁共振 成像
【主权项】:
1.一种磁共振(MR)成像装置,包括:MR成像设备(10),其包括磁体(12)和发热部件(18、20、22、24);冷却系统(30),其被连接以使用冷水冷却所述MR成像设备的所述发热部件;一个或多个传感器(TS、VS),每个传感器被配置为测量所述MR成像设备或所述冷却系统的所述发热部件的热参数;以及MR控制器(40),其包括电子处理器,所述电子处理器被编程为控制所述MR成像设备执行MR成像检查程序(42),并且响应于由所述一个或多个传感器测量的热参数指示所述冷却系统具有不足的冷却容量来调整所述MR成像检查程序的执行。
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