[发明专利]一种化学气相渗透或沉积的方法在审

专利信息
申请号: 201780041235.7 申请日: 2017-06-27
公开(公告)号: CN109415803A 公开(公告)日: 2019-03-01
发明(设计)人: S·高加德;A·戴尔凯姆;C·德斯坎普斯 申请(专利权)人: 赛峰航空陶瓷技术公司
主分类号: C23C16/04 分类号: C23C16/04;C23C16/32
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 王颖
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明提供一种化学气相渗透或沉积的方法,所述方法至少包括以下步骤:‑在多孔基材的孔中或在基材的表面上形成碳化硅,将基材置于反应室中,由引入反应室的气相形成碳化硅,所述气相包含试剂化合物,该试剂化合物是碳化硅的前体,并具有下式:其中:‑n是等于0或1的整数;‑m是1‑3范围内的整数;‑p是0‑2范围内的整数,并且m+p=3;和‑R表示‑H或‑CH3;引入的气相中碳原子数与硅原子数之比C/Si在2至3的范围内。
搜索关键词: 碳化硅 化学气相渗透 试剂化合物 反应室 基材 沉积 多孔基材 硅原子数 碳原子数 引入 前体
【主权项】:
1.一种化学气相渗透或沉积的方法,所述方法至少包括以下步骤:‑在多孔基材的孔中或在基材的表面上形成碳化硅,将基材置于反应室中,由引入反应室的气相形成碳化硅,所述气相包含试剂化合物,该试剂化合物是碳化硅的前体,并具有下式:其中:‑n是等于0或1的整数;‑m是1‑3范围内的整数;‑p是0‑2范围内的整数,并且m+p=3;和‑R表示‑H或‑CH3;引入的气相中碳原子数与硅原子数之比C/Si在2至3的范围内。
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