[发明专利]用于增加空腔封装制造速率的真空辅助的密封工艺和系统在审
申请号: | 201780042239.7 | 申请日: | 2017-06-26 |
公开(公告)号: | CN109478518A | 公开(公告)日: | 2019-03-15 |
发明(设计)人: | R·罗斯;J·倪;R·布雷甘特;傅彪;M·布雷甘特;C·安帕鲁 | 申请(专利权)人: | RJR技术公司 |
主分类号: | H01L21/52 | 分类号: | H01L21/52;H01L23/36 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 浦易文 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开说明了使用热固性、热塑性塑料、其它已知的或尚未知的粘合剂或这种粘合剂的混合组合来密封空腔电子封装的密封工艺和结构。所公开的工艺包括提供基部和盖子的步骤,基部和盖子中的至少一个具有涂覆有粘合剂的配合表面。首先,在基部、盖子和粘合剂之间保持气隙,并在基部、盖子和粘合剂周围产生真空。一旦已经产生真空,就使基部和盖子配合以形成其中具有真空的配合的封装组件。在配合之后,将配合的封装组件加热至固化温度以固化粘合剂,并且也可以施加压力。因为配合的封装组件内的空气在加热之前已经被抽空,所以其中没有空气压力积聚,减少或消除了井喷和针孔的出现。 | ||
搜索关键词: | 粘合剂 盖子 基部 封装组件 配合 密封工艺 加热 针孔 固化粘合剂 热塑性塑料 电子封装 空气压力 空腔封装 密封空腔 配合表面 施加压力 真空辅助 井喷 热固性 气隙 涂覆 固化 抽空 积聚 制造 | ||
【主权项】:
1.一种用于空腔电子封装的密封工艺,所述密封工艺包括以下步骤:提供基部和盖子,所述基部和所述盖子中的至少一个具有涂覆有粘合剂的配合表面;保持在所述基部和所述盖子之间的气隙;在所述基部、所述盖子和所述粘合剂周围产生真空;在已经产生真空之后将所述基部和所述盖子配合在一起以形成其中具有真空的配合的封装组件;以及将所述配合的封装组件加热至固化温度以固化所述粘合剂。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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