[发明专利]X射线相位差摄像装置在审
| 申请号： | 201780044614.1 | 申请日： | 2017-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN109475335A | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | 堀场日明;田边晃一;吉牟田利典;木村健士;岸原弘之;和田幸久;和泉拓朗;白井太郎;土岐贵弘;佐野哲;志村考功;渡部平司;细井卓治 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所;国立大学法人大阪大学 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 该X射线相位差摄像装置(100)具备：X射线源(1)；第一光栅(3)，其用于形成自身像；第二光栅(4)；检测部(5)，其检测X射线；调整机构(6)；以及控制部(7)，其进行基于由检测部(5)检测出的莫尔条纹图案来调整第一光栅(3)的位置偏移或第二光栅(4)的位置偏移的控制。 | ||
| 搜索关键词： | 光栅 摄像装置 位置偏移 相位差 检测 检测X射线 调整机构 莫尔条纹 图案 | ||
【主权项】：
1.一种X射线相位差摄像装置，具备：X射线源；第一光栅，其用于从所述X射线源照射X射线来形成自身像；第二光栅，其被照射通过所述第一光栅后的所述X射线；检测部，其对通过所述第二光栅后的所述X射线进行检测；调整机构，其用于调整所述第一光栅的位置或所述第二光栅的位置；以及控制部，其进行以下控制：基于由所述检测部检测出的莫尔条纹，利用所述调整机构来调整所述第一光栅的位置偏移或所述第二光栅的位置偏移。
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