[发明专利]高温等离子体中的低磁场和零点磁场的非微扰测量在审
| 申请号： | 201780048243.4 | 申请日： | 2017-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN109478428A | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | D.K.古普塔;R.伊格纳茨;K.H.诺尔西克 | 申请（专利权）人： | 阿尔法能源技术公司 |
| 主分类号： | G21B1/05 | 分类号： | G21B1/05;H05H1/11 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周学斌;陈岚 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 便于高温等离子体中的低磁场和零点磁场的非微扰测量的系统和方法。 | ||
| 搜索关键词： | 高温等离子体 低磁场 微扰 磁场 测量 | ||
【主权项】：
1.一种测量高温等离子体中的磁场的非微扰方法，其包括：将第一多个激光束径向注入到FRC等离子体中，其中每个激光束具有不同的偏振，在两个位置处与所述FRC等离子体的FRC磁场中的零点位置相交；在CCD的垂直方向上对所述第一多个激光束的路径成像；使用双折射晶体将所述垂直方向上的光进一步拆分成正交偏振；并且测量所述FRC磁场的零点位置。
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