[发明专利]用于验证谐振器的方法有效
申请号: | 201780049636.7 | 申请日: | 2017-06-09 |
公开(公告)号: | CN109844493B | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 穆尼亚伊尼·维罗妮卡;彼得罗维赫·德米特里·Y | 申请(专利权)人: | INL-国际伊比利亚纳米技术实验室 |
主分类号: | G01N11/16 | 分类号: | G01N11/16 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 张娜;李荣胜 |
地址: | 葡萄牙*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 用于验证谐振器的方法。该方法包括:提供与第一验证流体有关的谐振器的第一组谐振器响应,使谐振器和第二验证流体接触,其中第一验证流体和第二验证流体具有不同的粘弹性,获得谐振器与第二验证流体接触时的第二组谐振器响应,其中每个谐振器响应与谐振器的谐振频率或耗散有关,通过比较第一值和第二值来验证谐振器,所述第一值从所述第一组谐振器响应的至少一个谐振器响应和所述第二组谐振器响应的至少一个谐振器响应获得,所述第二值基于谐振器的频率或耗散响应与第一验证流体和第二验证流体的粘弹性的函数之间的关系。 | ||
搜索关键词: | 用于 验证 谐振器 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于验证谐振器的方法,所述方法包括:提供与第一验证流体有关的谐振器的第一组谐振器响应,使所述谐振器与第二验证流体接触,其中所述第一验证流体和所述第二验证流体具有不同的粘弹性,获得所述谐振器与所述第二验证流体接触时的第二组谐振器响应,其中每个谐振器响应与所述谐振器的谐振频率或耗散有关,通过比较第一值和第二值来验证所述谐振器,所述第一值从所述第一组谐振器响应的至少一个谐振器响应和所述第二组谐振器响应的至少一个谐振器响应获得,所述第二值基于所述谐振器的频率或耗散响应与所述第一验证流体和所述第二验证流体的粘弹性的函数之间的关系。
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