[发明专利]具有透射率不同的多个层的SiC半导体制造用部件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201780049906.4 申请日: 2017-08-18
公开(公告)号: CN109564933B 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 金桢一 申请(专利权)人: 韩国东海炭素株式会社
主分类号: H01L29/24 分类号: H01L29/24;H01L21/02;H01L21/3213;H01L21/3065;H01L21/205
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 宋融冰
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 根据本发明的一个实施例,提供具有透射率不同的多个层的SiC半导体制造用部件,其包括:两个以上被叠层的层,且所述被叠层的层的各层包括SiC,与相邻的其他层具有不同的透射率值。
搜索关键词: 具有 透射率 不同 多个层 sic 半导体 制造 部件 及其 方法
【主权项】:
1.一种具有透射率不同的多个层的SiC半导体制造用部件,其包括:两个以上被叠层的层,且所述被叠层的层的各层包括SiC,与相邻的其他层具有不同的透射率值。
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