[发明专利]用于对设备的管道系统中的沉积物进行识别的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201780050873.5 申请日: 2017-08-03
公开(公告)号: CN109642877B 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: G·瓦特斯;I·亨尼希;S·瓦格勒纳;E·詹妮;H·莱布 申请(专利权)人: 巴斯夫欧洲公司
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00;G01B7/13
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 黄丽娜;吴鹏
地址: 德国莱茵河*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提出一种用于对设备的管道系统中的沉积物进行识别的方法,其中该设备由流体流过。该方法以这样的方式将至少一个微波探针引入管道系统中,即流体朝向微波探针的对微波辐射透明的窗口(102)流动,并且微波经由至少一个微波探针耦合到管道系统中,其中使用一个或两个微波探针进行反射测量,和/或将至少两个微波探针彼此相距一定距离地引入管道系统中并进行透射测量,其中使用测量数据与基准或在先测量结果的比较来推断管道系统节段中的收缩部并确定收缩部处的自由横截面,其中从收缩部的识别来推导沉积物的有无。本发明的又一些方面涉及一种用于将微波辐射耦合到设备的管道系统中的微波探针以及用于执行所述方法的测量装置,该测量装置包括至少一个这种类型的微波探针。
搜索关键词: 用于 设备 管道 系统 中的 沉积物 进行 识别 方法 装置
【主权项】:
1.一种用于对设备的管道系统(10)中的沉积物进行识别的方法,所述设备由流体流过,其特征在于,以这样的方式将至少一个微波探针(100)引入所述管道系统(10)中,即,使流体对着所述微波探针(100)的对微波辐射透明的窗口(102)流动,其中微波借助所述至少一个微波探针(100)经由对微波辐射透明的所述窗口(102)耦合到所述管道系统(10)中,其中耦合到所述管道系统(10)中的微波以与在中空导体中相同的方式在所述管道系统(10)中传播,其中a.)进行反射测量,在该反射测量中,由所述至少一个微波探针(100)辐射的微波的反射被相应的微波探针(100)再次接收,截止频率被确定,其中为了确定截止频率,耦合到所述管道系统(10)中的微波的频率在预设区域内变化,并且针对每个频率确定反射的微波辐射的强度,并且由与基准或在先测量结果的比较来推断所述微波探针(100)的周围区域中的收缩部,其中对指示出收缩部的截止频率进行识别并从该指示出收缩部的截止频率确定收缩部处的自由横截面,和/或b.)进行反射测量,在该反射测量中,由所述至少一个微波探针(100)辐射的微波在收缩部处的反射被相应的微波探针(100)再次接收,考虑信号飞行时间来确定相应的微波探针(100)与管道系统中的收缩部之间的距离,和/或c.)将至少两个微波探针(100)彼此相距一定距离地引入所述管道系统中并在两个微波探针(100)之间进行透射测量,这两个微波探针(100)的布置限定出一管道系统节段,确定该管道系统节段的截止频率,其中为了确定截止频率,在预设区域中改变耦合到所述管道系统(10)中的微波的频率并针对每个频率确定反射的微波辐射的强度,并且通过与基准或在先测量结果的比较来推断所述管道系统节段中的收缩部,其中识别指示出收缩部的截止频率并从该指示出收缩部的截止频率确定收缩部处的自由横截面,其中,从收缩部的识别来推断沉积物的有无。
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