[发明专利]用于在光线追踪架构内对多个连续光线-表面相交点进行正确排序和枚举的方法和设备在审

专利信息
申请号: 201780053220.2 申请日: 2017-08-21
公开(公告)号: CN109643461A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: I·沃德 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G06T15/06 分类号: G06T15/06;G06T1/20
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 李炜;黄嵩泉
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 描述了一种用于在光线追踪系统中进行距离测试的设备和方法。例如,图形处理设备的一个实施例包括:光线追踪遍历/相交单元,用于标识两个或更多个光线‑表面相交点,所述光线‑表面相交点中的每一个被分配唯一命中点标识符(ID);以及距离测试模块,用于如果所述光线‑表面相交点中的所述两个或更多个光线‑表面相交点共享相同距离则使用所述命中点ID来对所述光线‑表面相交点的顺序进行消歧。
搜索关键词: 相交点 光线追踪 距离测试 命中 标识符 图形处理设备 方法和设备 连续光线 遍历 枚举 消歧 排序 相交 架构 共享 分配
【主权项】:
1.一种图形处理设备,包括:光线追踪遍历/相交单元,用于标识两个或更多个光线‑表面相交点,光线‑表面相交点中的每一个被分配唯一命中点标识符(ID);以及距离测试模块,用于如果光线‑表面相交点中的所述两个或更多个光线‑表面相交点共享相同距离则使用所述命中点ID来对光线‑表面相交点进行消歧。
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