[发明专利]用于估计磁性物体的参考轴与磁轴之间的角度偏差的方法有效
| 申请号： | 201780054445.X | 申请日： | 2017-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN109716168B | 公开（公告）日： | 2022-05-24 |
| 发明（设计）人： | 赛费德迪内·阿勒维;弗兰克·维亚尔;珍-玛丽·杜普雷拉图尔;吉扬·索瓦尼亚克;特里斯坦·奥森 | 申请（专利权）人： | 高级磁互作用公司（AMI）;原子能和替代能源委员会 |
| 主分类号： | G01V3/08 | 分类号： | G01V3/08;G01R33/00;G01R33/02 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 谢攀;刘继富 |
| 地址： | 法国塞西*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种用于估计磁性物体(2)的参考轴(Aref)和与所述磁性物体(2)的磁矩(m)共线的磁轴之间的角度偏差 |
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| 搜索关键词： | 用于 估计 磁性 物体 参考 磁轴 之间 角度 偏差 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于估计磁性物体(2)的参考轴(Aref)和与所述磁性物体(2)的磁矩(m)共线的磁轴之间的角度偏差![]()
的方法，包括以下步骤：a)将所述磁性物体(2)定位(90；110)为面向至少一个磁力计(Mi)，所述至少一个磁力计能够测量存在磁性物体(2)时的磁场(B)；b)使所述磁性物体(2)围绕所述参考轴(Aref)旋转(110)；c)在旋转期间，使用所述磁力计(Mi)来测量(110)在测量持续时间(T)的不同时刻(tj)的磁场(Bi(tj))；d)根据磁场(Bi)的测量(Bi(tj))来估计(130；230)角度偏差![]()
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