[发明专利]测试固定装置在审

专利信息
申请号: 201780054619.2 申请日: 2017-09-08
公开(公告)号: CN109661584A 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: 安东尼·J·舒托;约瑟夫·弗朗西斯·瑞因;约翰·P·托斯卡诺;约翰·约瑟夫·阿雷纳 申请(专利权)人: 泰拉丁公司
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317;G01R31/28
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 穆森;戚传江
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及示例性测试固定装置,所述测试固定装置接合测试仪和待测单元(UUT),所述测试固定装置包括以下各项:第一电触点,所述第一电触点面向所述测试仪;第二电触点,所述第二电触点面向所述UUT;基板,所述基板由印刷的第一材料节段构成,其中所述第一材料是非导电的,并且其中所述基板在所述第一电触点和所述第二电触点之间;以及结构,所述结构穿过所述基板,其中所述结构包括第二材料节段,其中所述第二材料是导电的,并且其中所述结构中的至少一个电连接第一电触点和第二电触点。
搜索关键词: 电触点 测试固定装置 基板 第二材料 第一材料 测试仪 导电 节段 待测单元 接合 电连接 穿过 印刷
【主权项】:
1.测试固定装置,所述测试固定装置用于接合测试仪和待测单元(UUT),所述测试固定装置包括:第一电触点,所述第一电触点面向所述测试仪;第二电触点,所述第二电触点面向所述UUT;基板,所述基板由印刷的第一材料节段构成,所述第一材料是非导电的,所述基板在所述第一电触点和所述第二电触点之间;以及结构,所述结构穿过所述基板,所述结构包括第二材料节段,所述第二材料是导电的,所述结构中的至少一个电连接第一电触点和第二电触点。
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