[发明专利]用于分析和分选材料的系统

摘要

本发明涉及一种用于分析和分选材料(2)的系统(1)，所述系统包括进给器(10)、分选设备(50)、激光设备(30)、光谱仪(40)和控制器设备(60)，所述进给器用于将至少一个材料件沿着进给表面(15)朝向斜槽(20)的上部分(21)输送到斜槽的上部分上，所述光谱仪被配置成检测来自材料件(2)的发射并且产生与所述发射相对应的输出信号，所述控制器设备被配置成接收所述输出信号并且操作分选设备(50)。激光设备(30)和光谱仪(40)两者都设置在进给(15)表面下方的水平高度上。而且，激光设备(30)被配置成产生激光束(35)，当材料件(2)至少部分地从斜槽(20)突出或者已经从斜槽(20)经由斜槽(20)的下边缘(22)掉落而空降时，所述激光束可以入射在材料件(2)上。

主权项

1.用于分析和分选材料的系统(1)，其包括：进给器装置(10)，所述进给器装置用于将至少一个材料件(2)沿着进给表面(15)朝向斜槽(20)的上部分(21)输送到所述斜槽的上部分上，其中，所述材料件(2)能在所述斜槽(20)上滑动并且经由所述斜槽(20)的下边缘(22)从所述斜槽(20)滑落；分选设备(50)，所述分选设备能操作成根据至少两个组分(F1，F2)对所述材料件(2)进行分选；激光设备(30)，所述激光设备(30)被配置成产生激光束(35)，当所述激光束(35)入射在所述材料件(2)上时，所述激光束能够产生来自所述材料件(2)的发射；光谱仪(40)，所述光谱仪被配置成检测来自所述材料件(2)的所述发射并且产生与所述发射相对应的且指示所述材料件(2)的化学成分的输出信号；以及控制器设备(60)，所述控制器设备被配置成接收所述输出信号并且基于所述输出信号和至少一个分选标准而操作所述分选设备(50)，其中，所述激光设备(30)和所述光谱仪(40)两者被设置在所述进给表面(15)下方的水平高度上，并且其中，所述激光设备(30)被配置成产生所述激光束(35)，以便当所述材料件(2)至少部分地从所述斜槽(20)越过所述斜槽(20)的所述下边缘(22)突出或者已经从所述斜槽(20)经由所述斜槽(20)的所述下边缘(22)掉落而空降时，所述激光束(35)能够入射在所述材料件(2)上。