[发明专利]用于样品的分析检查的测试元件分析系统有效
| 申请号： | 201780063503.5 | 申请日： | 2017-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN109804237B | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | L.菲施海特;R.施泰因;M.格贝尔 | 申请（专利权）人： | 豪夫迈·罗氏有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/77 | 分类号： | G01N21/77;G01N21/78;G01N33/487;G01N21/84;G02B21/24 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 邹松青;谭祐祥 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了用于样品的分析检查的测试元件分析系统（110）以及用于样品的分析检查的方法。测试元件分析系统（110）包括测量装置（112），测量装置（112）包括用于至少部分地接收至少一个测试元件（116）的测试元件接受器（114），其中，测试元件接受器（114）包括至少一个第一部分（118）和至少一个第二部分（120），其中，第一部分（118）包括用于置放测试元件（116）的至少一个支撑表面（144），其中，第二部分（120）包括至少一个光学检测器（128），所述光学检测器用于检测在测试元件（116）中包含的至少一种测试化学物质（154）的至少一种检测反应，其中，第二部分（120）可相对于第一部分（118）移动，其中，测试元件接受器（114）配置成将第二部分（120）定位在至少一个位置中，使得测试元件（116）可以插入到测试元件接受器（114）中，且随后将第二部分（120）定位在关闭位置（182）中，使得第二部分（120）的至少一个邻接表面（184）静止在测试元件（116）上。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 样品 分析 检查 测试 元件 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于样品的分析检查的测试元件分析系统（110），所述测试元件分析系统包括测量装置（112），所述测量装置（112）包括用于至少部分地接收至少一个测试元件（116）的测试元件接受器（114），其中，所述测试元件接受器（114）包括至少一个第一部分（118）和至少一个第二部分（120），其中，所述第一部分（118）包括用于置放所述测试元件（116）的至少一个支撑表面（144），其中，所述第二部分（120）包括至少一个光学检测器（128），所述光学检测器用于检测在所述测试元件（116）中包含的至少一种测试化学物质（154）的至少一种检测反应，其中，所述第二部分（120）能够相对于所述第一部分（118）移动，其中，所述测试元件接受器（114）配置成将所述第二部分（120）定位在至少一个位置中，使得测试元件（116）能够被插入到所述测试元件接受器（114）中，且随后将所述第二部分（120）定位在关闭位置（182）中，使得所述第二部分（120）的至少一个邻接表面（184）静止在所述测试元件（116）上。
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