[发明专利]检测器有效
申请号: | 201780066527.6 | 申请日: | 2017-07-05 |
公开(公告)号: | CN109891589B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
发明(设计)人: | 作村拓人;中江保一;松下一之;三楠聪 | 申请(专利权)人: | 株式会社理学 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;G01T7/00;H01L27/144;H04N5/30;H04N23/30;H04N25/30 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 高颖 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种检测器,能够通过计数电路的设计在相邻的读出芯片的边缘附近确保像素配置的空间。检测器是检测放射线的二维混合像素阵列型的检测器,具备:检测部,通过各像素(115)对入射到区域内的放射线进行检测;以及多个读出芯片(120),包含与每个像素(115)连接的计数电路(121),沿着检测面上的固定方向,计数电路(121)的设定间距比像素(115)的设定间距小,像素和与像素对应的计数电路彼此所占据的区域至少部分地重叠,在重叠的区域内进行连接。 | ||
搜索关键词: | 检测器 | ||
【主权项】:
1.一种检测器,是检测放射线的二维混合像素阵列型的检测器,其特征在于,具备:检测部,通过各像素对入射到区域内的放射线进行检测;以及多个读出芯片,包含与每个所述像素连接的计数电路,沿着检测面上的固定方向,所述计数电路的设定间距比所述像素的设定间距小,所述像素和与所述像素对应的计数电路彼此所占据的区域至少部分地重叠,在所述重叠的区域内进行所述连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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