[发明专利]中子辐射检测系统和方法在审
| 申请号： | 201780070254.2 | 申请日： | 2017-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN109983364A | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | M·埃瓦特塞恩科-博霍;E·莱德;R·皮耶恩;N·特罗斯特;R·布霍尔特 | 申请（专利权）人： | 赛默飞世尔科学测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01T3/00 | 分类号： | G01T3/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈洁;何焜 |
| 地址： | 德国埃*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | γ辐射检测装置包括检测γ辐射的闪烁检测器，所述检测器包括闪烁材料，所述闪烁材料包括元素，所述元素通过所述元素的中子活化产生发射γ辐射的同位素，以及处理器，其配置为监测由所述同位素发射的γ辐射，从而检测所述γ辐射检测装置对中子辐射的暴露。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射检测装置 闪烁材料 中子辐射 同位素 辐射 检测器 闪烁检测器 检测系统 中子活化 发射 检测 处理器 监测 暴露 配置 | ||
【主权项】：
1.一种γ辐射检测装置，其包括：a.检测γ辐射的闪烁检测器，所述检测器包括闪烁材料，所述闪烁材料包括元素，所述元素通过所述元素的中子活化产生发射γ辐射的同位素；和b.处理器，其配置为监测由所述同位素发射的γ辐射，从而检测所述γ辐射检测装置对中子辐射的暴露。
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