[发明专利]用于校准半导体装置的可调节阻抗的设备及方法有效
| 申请号： | 201780075169.5 | 申请日： | 2017-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN110073439B | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | D·甘斯 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C7/10 | 分类号： | G11C7/10 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请案中揭示用于校准半导体装置的可调节阻抗的设备及方法。一种实例设备包含经配置以存储阻抗校准信息的寄存器且进一步包含具有可编程阻抗的可编程终端电阻。所述实例设备进一步包含阻抗校准电路，其经配置以执行校准操作以确定用于设置所述可编程终端电阻的所述可编程阻抗的校准参数。所述阻抗校准电路经进一步配置以将与所述校准操作相关的所述阻抗校准信息编程于所述寄存器中。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校准 半导体 装置 调节 阻抗 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种设备，其包括：寄存器，其经配置以存储阻抗校准信息；可编程终端电阻，其具有可编程阻抗；及阻抗校准电路，其经配置以执行校准操作以确定用于设置所述可编程终端电阻的所述可编程阻抗的校准参数，所述阻抗校准电路经进一步配置以将与所述校准操作相关的所述阻抗校准信息编程于所述寄存器中。
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