[发明专利]温度检测元件及具有其的温度检测装置在审
申请号: | 201780079666.2 | 申请日: | 2017-11-20 |
公开(公告)号: | CN110100161A | 公开(公告)日: | 2019-08-06 |
发明(设计)人: | 森俊介;会田航平;川崎昌宏 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G01K11/06 | 分类号: | G01K11/06;G01K7/22 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 陈彦;金鲜英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供温度检测元件(1),其特征在于,包括具有基板(4,6)以及配置在该基板(4,6)上的电极(5,7)的基材(2,3)以及温度探测器(8),该温度探测器(8)配置在基板(2,3)上且与电极(5,7)电连接,该温度探测器(8)的相对于温度变化而产生的电磁波吸收特性(光吸收特性)的变化以及电气特性(电阻值)的变化是可逆的。该温度检测元件(1)构成为,使用前的保存管理容易,能够精确检测温度管理环境的温度变化。 | ||
搜索关键词: | 温度检测元件 温度探测器 基板 电极 电磁波吸收特性 温度检测装置 光吸收特性 保存管理 电气特性 温度管理 电连接 可逆的 电阻 基材 配置 检测 | ||
【主权项】:
1.一种温度检测元件,其特征在于,包括:具有基板以及配置在所述基板上的电极的基材,以及配置在所述基板上且与所述电极电连接的温度探测器;所述温度探测器的相对于温度变化而产生的电磁波吸收特性的变化以及电气特性的变化是可逆的。
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