[发明专利]半导体晶片承载器有效
申请号: | 201780081893.9 | 申请日: | 2017-12-18 |
公开(公告)号: | CN110140202B | 公开(公告)日: | 2023-02-28 |
发明(设计)人: | 伊曼纽尔·楚阿·阿巴斯;卡尔·安东尼·潘甘·蓬杜约;埃米尔·阿尔卡拉斯·帕尔斯;阿诺德·维拉莫尔·卡斯帝罗;维吉尔·罗德里格兹·桑多瓦尔 | 申请(专利权)人: | 迈可晟太阳能有限公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673;H01L31/18 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 陈炜 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本说明书描述了半导体晶片承载器、半导体晶片承载器的制造方法以及使用方法。半导体晶片承载器可包括避免双重开槽、防止半导体晶片上出现手套印迹以及为晶片承载器提供额外的安放和储存选项的特征。在一些示例中,半导体晶片承载器包括多个在竖直方向上平行的带有卡槽的左侧杆和多个在竖直方向上平行的带有卡槽的右侧杆。半导体晶片承载器包括一个或多个底杆。左侧杆、右侧杆和一个或多个底杆接合,以限定半导体晶片槽。 | ||
搜索关键词: | 半导体 晶片 承载 | ||
【主权项】:
1.一种半导体晶片承载器,包括:左侧上杆和左侧下杆,所述左侧上杆和所述左侧下杆在竖直方向上平行,其中所述左侧上杆和所述左侧下杆各自包括多个左侧卡槽,并且其中所述左侧上杆的所述左侧卡槽与所述左侧下杆的所述左侧卡槽竖直对齐;右侧上杆和右侧下杆,所述右侧上杆和所述右侧下杆在所述竖直方向上平行,其中所述右侧上杆和所述右侧下杆各自包括多个右侧卡槽,并且其中所述右侧上杆的所述右侧卡槽与所述右侧下杆的所述右侧卡槽竖直对齐;以及多个底杆,其中所述左侧上杆和所述左侧下杆,所述右侧上杆和所述右侧下杆、以及所述一个或多个底杆接合,使得所述左侧卡槽与所述右侧卡槽相对,在所述左侧卡槽、所述右侧卡槽、和所述底杆之间限定多个半导体晶片槽,并且其中所述底杆接合以在所述底杆之间限定多个孔口,并且其中至少第一孔口与第二孔口在所述左侧上杆和所述左侧下杆以及所述右侧上杆和所述右侧下杆之间在横向方向上重叠。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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