[发明专利]不良状况要因推定装置及不良状况要因推定方法在审
| 申请号： | 201780085513.9 | 申请日： | 2017-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN110249276A | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 远山泰弘 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 何立波;张天舒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的不良状况要因推定装置的特征在于，具备：数据收集部，其对构成设备的仪器的类别数据进行收集；相关性计算部，其对包含通过所述数据收集部收集到的类别数据在内的数据的相关性的指标进行计算；数据提取部，其基于通过所述相关性计算部计算出的相关性的指标的变化，将包含所述类别数据的数据的组合提取为与不良状况相关的数据；以及因果关系推定部，其从与所述与不良状况相关的数据关联的数据中，提取被推定为不良状况要因的数据。通过这样的结构，能够检测在现有技术中不能检测出的不良状况。 | ||
| 搜索关键词： | 不良状况 类别数据 数据收集部 推定装置 计算部 数据提取部 数据关联 因果关系 推定部 检测 推定 | ||
【主权项】：
1.一种不良状况要因推定装置，其特征在于，具备：数据收集部，其对构成设备的仪器的类别数据进行收集；相关性计算部，其对包含通过所述数据收集部收集到的类别数据在内的数据的相关性的指标进行计算；数据提取部，其基于通过所述相关性计算部计算出的相关性的指标的变化，将包含所述类别数据的数据的组合提取为与不良状况相关的数据；以及因果关系推定部，其从与所述与不良状况相关的数据关联的数据中提取被推定为不良状况要因的数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三菱电机株式会社，未经三菱电机株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201780085513.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：数控装置及数控系统
- 下一篇：用于检查的装置和方法
