[发明专利]用于内建自测试的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201780088151.9 申请日: 2017-03-17
公开(公告)号: CN110446935B 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 陆明;姜培;马建旭;白睿;陈学峰;王俊成 申请(专利权)人: 光梓信息科技(上海)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙) 11276 代理人: 王广涛
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及与内建自测试(BIST)有关的方法、设备和编程,公开了一种用于内建自测试的方法和设备。其中,一种用于内建自测试的设备包括:基板上的一个或多个非时钟和数据恢复(CDR)部件;所述基板上的信号发生器,所述信号发生器耦接到所述一个或多个非CDR部件中的至少一个;以及所述基板上的CDR部件,所述CDR部件耦接到所述一个或多个非CDR部件,其中所述CDR部件被配置为通过所述CDR部件从接收到的信号恢复时钟数据,并且被配置为基于所述接收到的信号和所述时钟数据来确定信号。
搜索关键词: 用于 测试 方法 设备
【主权项】:
1.一种设备,包括:基板上的一个或多个非时钟和数据恢复(CDR)部件;所述基板上的信号发生器,所述信号发生器耦接到所述一个或多个非CDR部件中的至少一个;以及所述基板上的CDR部件,所述CDR部件耦接到所述一个或多个非CDR部件,其中所述CDR部件:被配置为通过所述CDR部件从接收到的信号恢复时钟数据,并且被配置为基于所述接收到的信号和所述时钟数据来确定信号。
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