[发明专利]测量装置及测量探针在审
申请号: | 201780088814.7 | 申请日: | 2017-02-24 |
公开(公告)号: | CN110462444A | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | 今堀良夫;竹吉艳子;宫崎秀树;加藤进辅;竹内德秀;樱木红莉 | 申请(专利权)人: | 康适智能护理系统株式会社;富士设计科技有限公司 |
主分类号: | G01T3/06 | 分类号: | G01T3/06;C09K11/06;G01T1/20 |
代理公司: | 31100 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 宋俊寅<国际申请>=PCT/JP2017 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的测量装置(1)包括:至少包含会因放射线作用而停止发出荧光的荧光物质的感应部(3);以及测量部(5),该测量部(5)基于由包含在感应部3中的荧光物质发出的荧光强度由于放射线作用于荧光物质的至少一部分而衰减时的衰减量,对照射到感应部(3)的放射线的放射剂量进行测量。荧光物质包括锂、硼、钆中的至少某一个。测量部(5)基于从放射线照射到感应部(3)之前的荧光强度减去放射线照射到感应部(3)之后的荧光强度而得到的值来对放射线剂量进行测量。 | ||
搜索关键词: | 感应部 荧光物质 荧光 测量 放射线照射 放射线作用 放射线 测量装置 放射剂量 衰减量 减去 衰减 照射 | ||
【主权项】:
1.一种测量装置,其特征在于,包括:/n感应部,该感应部至少包含会因放射线作用而停止发出荧光的荧光物质;以及/n测量部,该测量部基于激励源照射到包含在所述感应部中的所述荧光物质而发出的荧光的强度由于放射线作用于所述荧光物质的至少一部分而衰减时的衰减量,对照射到所述感应部的放射线的放射剂量进行测量。/n
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