[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201780088847.1 申请日: 2017-03-28
公开(公告)号: CN110521114B 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 佐佐木善伸 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H03F1/52 分类号: H03F1/52;H01L25/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明具备:第1半导体芯片,其形成有场效应晶体管,该场效应晶体管具有栅极端子、漏极端子以及与接地用端子连接的源极端子;第2半导体芯片,其具有直流地连接的输入端子和输出端子,第2半导体芯片具有与输入端子和接地用端子连接的第1电容器;第1电感,其连接在输出端子与栅极端子之间;第2电感,其第1端子与输入端子连接;第2电容器,其连接在第2电感的第2端子与接地用端子之间;保护二极管,其具有阴极、与接地用端子连接的阳极,保护二极管构成为,至少大于或等于2个沿正向串联连接;以及第3电感,其连接在阴极与第2端子之间,本发明能够以少的保护二极管的级联级数实现ESD破坏保护功能,并且抑制功率增益的下降。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,其具备:/n第1半导体芯片,其包含场效应晶体管,该场效应晶体管具有栅极端子、漏极端子以及与接地用端子连接的源极端子;/n第2半导体芯片,其具有彼此直流地通过配线而连接的输入端子和输出端子,该第2半导体芯片包含一端与所述配线连接,另一端与所述接地用端子连接的第1电容器;/n第1电感,其连接在所述输出端子与所述栅极端子之间;/n第2电感,其具有与所述配线连接的第1端子;/n第2电容器,其形成于所述第2半导体芯片,连接在所述第2电感的第2端子与所述接地用端子之间;/n保护二极管,其形成于所述第2半导体芯片,并且该保护二极管的阳极与所述接地用端子连接;以及/n第3电感,其连接在所述保护二极管的阴极与所述第2端子之间。/n
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