[发明专利]一种X荧光光谱仪测定锰矿石中的主次量元素的方法在审
| 申请号： | 201810002720.X | 申请日： | 2018-01-02 |
| 公开（公告）号： | CN108051467A | 公开（公告）日： | 2018-05-18 |
| 发明（设计）人： | 程秀花;曹珊;王烨;黎卫亮 | 申请（专利权）人： | 中国地质调查局西安地质调查中心 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N1/28 |
| 代理公司： | 西安长和专利代理有限公司 61227 | 代理人： | 黄伟洪 |
| 地址： | 710054 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于分析测试技术领域，公开了一种X荧光光谱仪测定锰矿石中的主次量元素的方法，采用减少粉末效应、粒度效应、矿物效应的高压粉末制样技术，作为锰矿石XRF分析的制样方式，同时运用仪器定量分析软件校正元素之间的吸收增强效应、背景干扰、基体效应的干扰，建立一种测定锰矿石中多种组分的高压粉末压片X射线荧光光谱分析法。本发明拟采用可明显减少粉末效应、粒度效应、矿物效应的高压粉末制样技术作为XRF分析锰矿石的制样方式，实现高压粉末压片XRF一次性快速测定锰矿石中的主次量组分，避免采用传统锰矿石的配套系列方法，节约了人力和成本，提高了测试效率和经济效益，同时可实现绿色分析的环保理念。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 光谱仪 测定 锰矿石 中的 主次 元素 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X荧光光谱仪测定锰矿石中的主次量元素的方法，其特征在于，所述X荧光光谱仪测定锰矿石中的主次量元素的方法为测定锰矿石中多种组分的高压粉末压片X射线荧光光谱分析法；所述方法采用减少粉末效应、粒度效应、矿物效应的高压粉末制样技术作为锰矿石XRF分析的制样方式；同时运用仪器定量分析软件校正元素之间的吸收增强效应、背景干扰、基体效应的干扰。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国地质调查局西安地质调查中心，未经中国地质调查局西安地质调查中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810002720.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种纯薏米发酵乳
- 下一篇：一种蜂窝夹层结构及其制备方法
