[发明专利]温度测量方法及装置、存储介质、温度测量装置检验方法有效
申请号: | 201810011939.6 | 申请日: | 2018-01-05 |
公开(公告)号: | CN108613753B | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 王海生;吴俊纬;丁小梁;郑智仁;曹学友;王鹏鹏;刘伟;张平;韩艳玲;赵利军;贾亚楠 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G01K11/00 | 分类号: | G01K11/00;G01K15/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 姜春咸;陈源 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种确定不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法,所述方法包括在多个不同的预定温度下均进行的以下步骤:对所述振荡器温度传感器充电后,在不同时刻测量所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率;根据不同时刻测得的频率确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。本发明还提供一种利用振荡器温度传感器测量温度的方法、一种温度测量装置、一种存储介质和一种温度测量装置的检验方法。长时间使用后,所述温度测量装置仍然具有较高的检测精度。 | ||
搜索关键词: | 温度 测量方法 装置 存储 介质 测量 检验 方法 | ||
【主权项】:
1.一种确定不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法,其特征在于,所述方法包括在多个不同的预定温度下均进行的以下步骤:对所述振荡器温度传感器充电后,在不同时刻测量所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率;根据不同时刻测得的频率确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810011939.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。