[发明专利]传感器测试方法、装置及可读存储介质有效

专利信息
申请号: 201810041755.4 申请日: 2018-01-16
公开(公告)号: CN108362322B 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 李玮琮 申请(专利权)人: 奇酷互联网络科技(深圳)有限公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 钟子敏
地址: 518055 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种传感器测试方法、装置及可读存储介质,应用于主板中,所述传感器与所述主板连接,测试时与所述主板相距预设距离的位置设置一挡板,所述传感器包括光强度感应器和红外线发射器,用于对环境光感应和红外光感应,所述传感器测试方法包括:获取不同的增益参数条件下所述光强度感应器检测的环境光亮度,并判断所述环境光亮度是否随着所述增益参数的改变而改变;若是,通过改变红外发射功率进行模拟所述挡板靠近和远离所述传感器的试验;当所述试验成功时,确定所述传感器功能正常。本发明实施例中的方法可以在产品贴装(SMT)时快速检测ALSP‑Sensor电路及器件功能正常与否。
搜索关键词: 传感器 测试 方法 装置 可读 存储 介质
【主权项】:
1.一种传感器测试方法,其特征在于,应用于主板中,所述传感器与所述主板连接,测试时与所述主板相距预设距离的位置设置一挡板,所述传感器包括光强度感应器和红外线发射器,所述传感器测试方法包括:获取不同的增益参数条件下所述光强度感应器检测的环境光亮度,并判断所述环境光亮度是否随着所述增益参数的改变而改变;若是,通过改变红外发射功率进行模拟所述挡板靠近和远离所述传感器的试验;当所述试验成功时,确定所述传感器功能正常。
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