[发明专利]一种基于白光干涉的分布式动态应力频率测量方法有效
| 申请号： | 201810043277.0 | 申请日： | 2018-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN108489640B | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 张红霞;王宇瑶;温国强;贾大功;刘铁根 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01L1/10 | 分类号： | G01L1/10;G01L5/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 程毓英 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于白光干涉的分布式动态应力频率测量方法，利用基于白光干涉的分布式偏振耦合测试系统实现，包括如下的步骤：利用压电陶瓷对保偏光纤施加动态应力；利用分布式偏振耦合系统对动态应力下的白光干涉图进行测量，得到干涉图样；截取光电探测器接收的干涉图中动态耦合点干涉条纹部分的数据；对动态耦合点数据进行Hilbert变换得到耦合点包络曲线；对动态耦合点包络曲线进行小波时频分析得到时频分布图，时频分布图中包含了动态应力的频率信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 白光 干涉 分布式 动态 应力 频率 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于白光干涉的分布式动态应力频率测量方法，利用基于白光干涉的分布式偏振耦合测试系统实现，包括如下的步骤：1)利用压电陶瓷对保偏光纤施加动态应力；2)利用分布式偏振耦合系统对动态应力下的白光干涉图进行测量，得到干涉图样；3)截取光电探测器接收的干涉图中动态耦合点干涉条纹部分的数据；4)对动态耦合点数据进行Hilbert变换得到耦合点包络曲线；5)对动态耦合点包络曲线进行小波时频分析得到时频分布图，时频分布图中包含了动态应力的频率信息。
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