[发明专利]金属线引出工艺结构及其制备方法和背照式图像传感器有效
申请号: | 201810049126.6 | 申请日: | 2018-01-18 |
公开(公告)号: | CN108257883B | 公开(公告)日: | 2019-01-18 |
发明(设计)人: | 曹静;潘震;胡胜 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/495;H01L27/146 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹;李相雨 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供了一种金属线引出工艺结构及其制备方法和背照式图像传感器,金属线引出工艺结构包括:衬底,衬底包括凹槽和光电二极管预制备区;凹槽的纵切面呈一正梯形形状;凹槽的底部下方填埋有一金属互联层;凹槽的底部设有开口,开口穿过凹槽的底部的所述衬底,且终止于金属互联层;第一介质层,覆盖光电二极管预制备区处的衬底的表面;氧化层,覆盖述凹槽的侧壁和底部的一部分,且覆盖第一介质层的表面,覆盖第一介质层表面的氧化层以及第一介质层于所述凹槽正上方区域的纵切面呈一倒梯形形状。本发明能够解决现有金属线引出工艺结构中,位于凹槽侧壁的氧化层的厚度不能达到隔离金属与硅的要求,进而导致器件性能下降的问题。 | ||
搜索关键词: | 工艺结构 金属线 衬底 介质层 氧化层 背照式图像传感器 光电二极管 金属互联层 覆盖 纵切面 制备 预制 开口 倒梯形形状 介质层表面 正上方区域 正梯形形状 凹槽侧壁 隔离金属 器件性能 侧壁 填埋 穿过 | ||
【主权项】:
1.一种金属线引出工艺结构,其特征在于,包括:衬底,所述衬底包括凹槽和光电二极管预制备区;其中,所述凹槽的纵切面呈一正梯形形状;所述凹槽的底部下方填埋有一金属互联层;所述凹槽的底部设有开口,所述开口穿过所述凹槽的底部的所述衬底,且终止于所述金属互联层;第一介质层,覆盖所述光电二极管预制备区处的所述衬底的表面;氧化层,覆盖所述凹槽的侧壁和底部的一部分,且覆盖所述第一介质层的表面,其中,覆盖第一介质层表面的氧化层以及第一介质层于所述凹槽正上方区域的纵切面呈一倒梯形形状。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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