[发明专利]距离计测装置有效
| 申请号： | 201810053142.2 | 申请日： | 2018-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN109521435B | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 久保田宽;松本展;佐藤早纪;福岛知纪 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
| 主分类号： | G01S17/10 | 分类号： | G01S17/10 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 房永峰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 实施方式提供能够高精度地判断检测的光是正规的反射光还是干扰光的距离计测装置。实施方式的距离计测装置具备：出射部，间歇地出射光；以及计测部，基于从上述出射部出射光开始到由被测定物反射后得到的反射光返回为止的时间，计测到上述被测定物的距离。上述出射部每规定周期延迟随机的时间长的偏移的量地出射光。而且，上述计测部使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计而生成累计检测信号，基于上述累计检测信号，判断上述检测信号中的光是否是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光。 | ||
| 搜索关键词： | 距离 装置 | ||
【主权项】：
1.一种距离计测装置，其特征在于，具备：出射部，间歇地出射光；以及计测部，基于从上述出射部出射光开始到由被测定物反射后得到的反射光返回为止的时间，计测到上述被测定物的距离，上述出射部每规定周期使光延迟随机的时间长的偏移的量后出射，上述计测部使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计从而生成累计检测信号，基于上述累计检测信号，判断上述检测信号中的光是否是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光。
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