[发明专利]缺陷检测方法及装置在审
申请号: | 201810054718.7 | 申请日: | 2018-01-19 |
公开(公告)号: | CN108230321A | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 何岗;魏浪;段斌;谢煜;张双诚 | 申请(专利权)人: | 深圳市亿图视觉自动化技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/187 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙岗区布*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明适用于缺陷检测技术领域,提供了缺陷检测方法及装置,包括:获取原始图像;从所述原始图像中获取待检测区域图像,其中,所述待检测区域图像包含缺陷区域;计算所述待检测区域图像中像素指定邻域的灰度值方差,获取区域方差图像,其中,所述区域方差图像中像素的灰度值为该像素指定邻域的灰度值方差;若所述区域方差图像中存在灰度值超过指定阈值的像素,则确定该像素所在位置为缺陷区域,并标记出该缺陷区域。通过本发明可避免人工检测盖板玻璃表面缺陷,提高缺陷检测的效率和准确率。 | ||
搜索关键词: | 方差 图像 灰度 待检测区域 缺陷检测 缺陷区域 像素 像素指定 原始图像 邻域 缺陷检测技术 表面缺陷 盖板玻璃 人工检测 准确率 | ||
【主权项】:
1.一种缺陷检测方法,其特征在于,所述缺陷检测方法包括:获取原始图像;从所述原始图像中获取待检测区域图像,其中,所述待检测区域图像包含缺陷区域;计算所述待检测区域图像中像素指定邻域的灰度值方差,获取区域方差图像,其中,所述区域方差图像中像素的灰度值为该像素指定邻域的灰度值方差;若所述区域方差图像中存在灰度值超过指定阈值的像素,则确定该像素所在位置为缺陷区域,并标记出该缺陷区域。
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