[发明专利]一种下落粒子的直径测量方法及激光雨滴谱仪有效
| 申请号： | 201810054826.4 | 申请日： | 2018-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN108225198B | 公开（公告）日： | 2020-01-03 |
| 发明（设计）人： | 张垚;刘强;李佳 | 申请（专利权）人： | 北京敏视达雷达有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/10 | 分类号： | G01B11/10;G01W1/14 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 100094 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种下落粒子的直径测量方法及激光雨滴谱仪，该方法包括；激光雨滴谱仪在测量下落粒子的直径时，激光接收端会检测接收的平行激光的激光强度，当没有下落粒子遮挡平行激光时，根据当前环境的透射率设置N，并且根据检测到的平行激光的N个激光强度采样值计算出基准激光强度，从而根据基准激光强度计算下落粒子的直径。可见，在计算下落粒子的直径时，能够根据N个激光强度采样值动态地计算基准激光强度，并且N的个数根据当前环境的透射率进行设置，即实现了根据环境因素适应性地调整激光基准强度，减少了环境干扰对测量误差的影响，提高了测量准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 激光雨滴谱仪 基准激光 平行激光 激光 直径测量 测量 透射率 采样 准确度 环境干扰 环境因素 激光基准 激光接收 强度计算 检测 遮挡 | ||
【主权项】：
1.一种下落粒子的直径测量方法，其特征在于，用于激光雨滴谱仪中，所述激光雨滴谱仪包括：激光发射端和激光接收端，所述激光发射端与所述激光接收端之间形成测量区域；所述方法包括：/n所述激光发射端发射平行激光；/n所述激光接收端接收所述激光发射端发射的平行激光，检测接收的平行激光的激光强度，当没有下落粒子遮挡平行激光时，根据当前环境的透射率设置N，并且根据检测到的平行激光的N个激光强度采样值计算出基准激光强度；其中，N大于1，并且所述N与所述透射率的变化趋势相同；/n所述激光接收端实时计算接收到的平行激光的激光强度与所述基准激光强度的差值，当根据所述差值判断出激光强度发生突变时，根据所述差值计算下落粒子的直径，具体为：/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京敏视达雷达有限公司，未经北京敏视达雷达有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810054826.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
