[发明专利]适用于聚合物厚绝缘平板结构电击穿测试用的试样模具有效
| 申请号： | 201810066945.1 | 申请日： | 2018-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN110068754B | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 尹毅;刘德远;吴建东 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01R31/20 | 分类号： | G01R31/20 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人： | 王毓理;王锡麟 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于检测聚合物绝缘平板电击穿性能的装置，包括：两块相对设置且内部具有环形波纹结构的壳具、设置于壳具两端的一对金属电极以及设置于壳具外部的螺旋测微仪，其中：合并后的壳具内部的环形波纹结构构成内部通路，两个金属电极位于内部通路内且不相接触。本发明能够有效抑制了高电场下发生沿面放电现象的同时击穿检测数据具有较高的一致性。 | ||
| 搜索关键词： | 适用于 聚合物 绝缘 平板 结构 击穿 测试 试样 模具 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测聚合物绝缘平板电击穿性能的装置，其特征在于，包括：两块相对设置且内部具有环形波纹结构的壳具、设置于壳具两端的一对金属电极以及设置于壳具外部的螺旋测微仪，其中：合并后的壳具内部的环形波纹结构构成内部通路，两个金属电极位于内部通路内且不相接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学，未经上海交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810066945.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
