[发明专利]一种相位测量方法及相位测量装置在审
| 申请号： | 201810074178.9 | 申请日： | 2018-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN110082593A | 公开（公告）日： | 2019-08-02 |
| 发明（设计）人： | 刘梓轩;邱文才;张辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市英特瑞半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R25/00 | 分类号： | G01R25/00 |
| 代理公司： | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人： | 曲卫涛 |
| 地址： | 518054 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及通信授时领域，提供了一种相位测量方法及相位测量装置。其中，所述相位测量方法通过设置有至少两路整形电路的整形模块对被测源的信号进行整形；轮询各路被测源经过整形后的输出信号，并通过所述输出信号上升沿或下降沿的变化触发选择有效的整形电路的输出信号作为被测源信号；计算所述被测源信号对应的频率值，并输出所述被测源信号对应的1PPS信号；选择一路被测源信号对应的1PPS信号作为主对比源，将其余被测源信号对应的1PPS信号分别与所述主对比源比较得出相位差，实现测试环境搭建简单、设备精简、成本较低且提升工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 被测源 信号对应 相位测量 相位测量装置 输出信号 整形电路 整形 输出信号上升 测试环境 工作效率 整形模块 下降沿 相位差 触发 两路 轮询 输出 通信 | ||
【主权项】：
1.一种相位测量方法，其特征在于，所述方法包括：通过设置有至少两路整形电路的整形模块对被测源的信号进行整形；轮询各路被测源经过整形后的输出信号，并通过所述输出信号上升沿或下降沿的变化触发选择有效的整形电路的输出信号作为被测源信号；计算所述被测源信号对应的频率值，并输出所述被测源信号对应的1PPS信号；选择一路被测源信号对应的1PPS信号作为主对比源，将其余被测源信号对应的1PPS信号分别与所述主对比源比较得出相位差。
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