[发明专利]扇出型封装方法在审

专利信息
申请号: 201810082504.0 申请日: 2018-01-29
公开(公告)号: CN108321113A 公开(公告)日: 2018-07-24
发明(设计)人: 谭小春;高阳 申请(专利权)人: 合肥矽迈微电子科技有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人: 高翠花;翟羽
地址: 230001 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供一种扇出型封装方法,用于形成封装体,方法包括步骤:提供晶圆,晶圆包括多个晶粒,相邻的两个晶粒之间具有第一距离,晶粒包括设置有焊垫的正面;将晶粒转移至第二载体上,在第二载体上,相邻的晶粒之间具有第二距离,第二距离大于第一距离;将晶粒转移至第三载体上,晶粒的焊垫与第三载体连接;去除第二载体;塑封晶粒;去除第三载体,晶粒的焊垫暴露于第一塑封体表面;在第一塑封体暴露晶粒的焊垫的表面设置电路,实现晶粒与外部的电连接;切割,形成独立的封装体。本发明优点是,在切割形成独立的封装体之前,增大晶粒之间的间距,避免切割时,切割工具损坏晶粒,提高封装体的良率,该方法工艺简单且易操作,并能够节约成本,缩短生产周期。
搜索关键词: 晶粒 封装体 焊垫 切割 扇出型封装 晶圆 去除 缩短生产周期 塑封体表面 表面设置 切割工具 载体连接 电连接 塑封体 暴露 良率 塑封 电路 节约 外部
【主权项】:
1.一种扇出型封装方法,其特征在于,包括如下步骤:提供一晶圆,所述晶圆包括多个晶粒,所述多个晶粒设置在一第一载体上,相邻的两个晶粒之间具有一第一距离,所述晶粒包括设置有焊垫的正面及与所述正面相对的背面,所述背面与所述第一载体连接;提供一第二载体;将所述晶粒转移至所述第二载体上,所述晶粒的背面与所述第二载体连接,在所述第二载体上,相邻的晶粒之间具有一第二距离,所述第二距离大于所述第一距离;提供一第三载体;将所述晶粒转移至所述第三载体上,所述晶粒的焊垫与所述第三载体连接;去除所述第二载体;塑封所述晶粒,形成第一塑封体,所述第一塑封体包覆所述晶粒并暴露出所述第三载体;去除所述第三载体,所述晶粒的焊垫暴露于所述第一塑封体表面;在所述第一塑封体暴露所述晶粒的焊垫的表面设置电路,实现所述晶粒与外部的电连接;切割,形成独立的封装体。
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