[发明专利]芯片单粒子辐照测试方法、装置、系统及数据库建立方法在审
| 申请号： | 201810086328.8 | 申请日： | 2018-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN108318803A | 公开（公告）日： | 2018-07-24 |
| 发明（设计）人： | 祝名;谷瀚天;张伟;蒋晋东;朱恒静 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 范晓毅 |
| 地址： | 100194 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片单粒子辐照测试方法、装置、系统及数据库建立方法，属于辐照测试技术领域。所述单粒子辐照测试方法，包括：获取测试指令，并根据所述测试指令中包含的测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件；对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值；根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值；将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，作为待测芯片的单粒子辐照测试结果。该方法能够覆盖所有芯片的辐照试验测试，通用性高。 | ||
| 搜索关键词： | 测试向量压缩 单粒子辐照 测试向量 待测芯片 测试 数据库建立 测试指令 实际输出 输出标准 芯片 文件数据库 辐照测试 辐照试验 输出测试 文件标识 解压缩 向量 驱动 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种芯片单粒子辐照测试方法，在测试控制端执行，其特征在于，包括：获取测试指令，并根据所述测试指令中包含的测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件；对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值；根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值；将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，确定待测芯片的单粒子辐照测试结果。
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