[发明专利]SiC晶片的生成方法有效

专利信息
申请号: 201810089116.5 申请日: 2018-01-30
公开(公告)号: CN108447783B 公开(公告)日: 2023-10-13
发明(设计)人: 平田和也;山本凉兵 申请(专利权)人: 株式会社迪思科
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304;B23K26/53;B28D5/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 庞东成;褚瑶杨
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供SiC晶片的生成方法,其能够高效地将晶片从单晶SiC晶锭剥离。一种SiC晶片的生成方法,其包括下述工序:剥离层形成工序,将对于单晶SiC具有透过性的波长的激光光线(LB)的聚光点(FP)定位在距离晶锭(2)的第一面(4)(端面)相当于要生成的晶片的厚度的深度,对晶锭(2)照射激光光线(LB),形成剥离层(22),该剥离层(22)由SiC分离成Si和C的改质部(18)和从改质部(18)起在c面各向同性地形成的裂纹(20)构成;晶片生成工序,将SiC晶锭(2)的生成SiC晶片的那侧浸渍于液体(26)中,与发出具有与晶锭(2)的固有振动频率近似的频率以上的频率的超声波的振动板(30)对置,以剥离层(22)为界面将晶锭(2)的一部分剥离而生成SiC晶片(39)。
搜索关键词: sic 晶片 生成 方法
【主权项】:
1.一种SiC晶片的生成方法,其从单晶SiC晶锭生成SiC晶片,该单晶SiC晶锭具有c轴和与c轴垂直的c面,该SiC晶片的生成方法具备下述工序:剥离层形成工序,将对于单晶SiC具有透过性的波长的激光光线的聚光点定位在距离单晶SiC晶锭的端面相当于要生成的SiC晶片的厚度的深度,对单晶SiC晶锭照射激光光线,形成剥离层,该剥离层由SiC分离成Si和C的改质部和从改质部起在c面各向同性地形成的裂纹构成;和晶片生成工序,在实施该剥离层形成工序后,将单晶SiC晶锭的生成SiC晶片的那侧浸渍于液体中,与发出具有与单晶SiC晶锭的固有振动频率近似的频率以上的频率的超声波的振动板对置,以剥离层为界面将单晶SiC晶锭的一部分剥离而生成SiC晶片。
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