[发明专利]SiC晶片的生成方法有效
申请号: | 201810089116.5 | 申请日: | 2018-01-30 |
公开(公告)号: | CN108447783B | 公开(公告)日: | 2023-10-13 |
发明(设计)人: | 平田和也;山本凉兵 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;B23K26/53;B28D5/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 庞东成;褚瑶杨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供SiC晶片的生成方法,其能够高效地将晶片从单晶SiC晶锭剥离。一种SiC晶片的生成方法,其包括下述工序:剥离层形成工序,将对于单晶SiC具有透过性的波长的激光光线(LB)的聚光点(FP)定位在距离晶锭(2)的第一面(4)(端面)相当于要生成的晶片的厚度的深度,对晶锭(2)照射激光光线(LB),形成剥离层(22),该剥离层(22)由SiC分离成Si和C的改质部(18)和从改质部(18)起在c面各向同性地形成的裂纹(20)构成;晶片生成工序,将SiC晶锭(2)的生成SiC晶片的那侧浸渍于液体(26)中,与发出具有与晶锭(2)的固有振动频率近似的频率以上的频率的超声波的振动板(30)对置,以剥离层(22)为界面将晶锭(2)的一部分剥离而生成SiC晶片(39)。 | ||
搜索关键词: | sic 晶片 生成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种SiC晶片的生成方法,其从单晶SiC晶锭生成SiC晶片,该单晶SiC晶锭具有c轴和与c轴垂直的c面,该SiC晶片的生成方法具备下述工序:剥离层形成工序,将对于单晶SiC具有透过性的波长的激光光线的聚光点定位在距离单晶SiC晶锭的端面相当于要生成的SiC晶片的厚度的深度,对单晶SiC晶锭照射激光光线,形成剥离层,该剥离层由SiC分离成Si和C的改质部和从改质部起在c面各向同性地形成的裂纹构成;和晶片生成工序,在实施该剥离层形成工序后,将单晶SiC晶锭的生成SiC晶片的那侧浸渍于液体中,与发出具有与单晶SiC晶锭的固有振动频率近似的频率以上的频率的超声波的振动板对置,以剥离层为界面将单晶SiC晶锭的一部分剥离而生成SiC晶片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造