[发明专利]一种改进的差分架构SONOS Flash存储单元及存储器在审
申请号: | 201810089420.X | 申请日: | 2018-01-30 |
公开(公告)号: | CN108711442A | 公开(公告)日: | 2018-10-26 |
发明(设计)人: | 张立军;季爱明;吴澄;陈泽翔;桑胜男;马亚奇;刘金陈;佘一奇 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 |
主分类号: | G11C16/26 | 分类号: | G11C16/26;G11C16/04;G11C16/34 |
代理公司: | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙) 32251 | 代理人: | 陆金星 |
地址: | 215104 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种改进的差分架构SONOS Flash存储单元及存储器,该存储单元包括差分对称分布的两个完全相同的SONOS晶体管M1和SONOS晶体管M2,所述SONOS晶体管M1和SONOS晶体管M2的栅极相连,作为整个存储单元的字线;所述SONOS晶体管M1和SONOS晶体管M2的漏极分别连接存储单元的两根源线SL1和SL2;所述SONOS晶体管M1和SONOS晶体管M2的源极分别作为存储单元的两根位线BL1和BL2,并作为一组差分对输入到灵敏放大器中;还包括跨接在所述SONOS晶体管M1和SONOS晶体管M2的栅极的公共端与源线SL1和SL2的公共端之间的PBTI恢复电路。本发明能够有效避免采用基准电路带来的不匹配问题,极大地提高读取的稳定性,同时能够减少PBTI的影响。 | ||
搜索关键词: | 存储单元 存储器 公共端 架构 读取 灵敏放大器 对称分布 恢复电路 基准电路 匹配问题 栅极相连 跨接 漏极 位线 源极 源线 字线 改进 | ||
【主权项】:
1.一种改进的差分架构SONOS Flash存储单元,其特征在于:包括差分对称分布的两个完全相同的SONOS晶体管M1和SONOS晶体管M2,所述SONOS晶体管M1和SONOS晶体管M2的栅极相连,作为整个存储单元的字线;所述SONOS晶体管M1和SONOS晶体管M2的漏极分别连接存储单元的两根源线SL1和SL2;所述SONOS晶体管M1和SONOS晶体管M2的源极分别作为存储单元的两根位线BL1和BL2,并作为一组差分对输入到灵敏放大器中;还包括跨接在所述SONOS晶体管M1和SONOS晶体管M2的栅极的公共端与源线SL1和SL2的公共端之间的PBTI恢复电路。
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