[发明专利]精密测量板卡在审

专利信息
申请号: 201810098415.5 申请日: 2018-01-31
公开(公告)号: CN108375725A 公开(公告)日: 2018-08-07
发明(设计)人: 李凯;黄志发;谷颜秋 申请(专利权)人: 佛山市联动科技实业有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 代理人: 张清彦
地址: 528200 广东省佛山市南海区罗*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种精密测量板卡,包括集成在一块板卡上的高速高精度精密测量模块、高精度时间测量模块、数字信号处理模块、精密电压源输出模块、通讯电路和FPGA,高速高精度精密测量模块与FPGA连接,用于精密测量被测电路的电压参数,高精度时间测量模块与FPGA连接、用于对电子器件的时间参数进行精密测量,高精度时间测量模块包括信号调理电路、波形整形电路和TDC时间测量芯片,精密电压源输出模块与FPGA连接、用于为被测电路提供电压输出,通讯电路与FPGA连接。实施本发明的精密测量板卡,具有以下有益效果:在精密测量的基础上提供精密电压输出、能节省测试电路的构造空间、避免多余线路对测试的干扰、能降低测试成本。
搜索关键词: 精密测量 板卡 时间测量模块 精密电压源 被测电路 输出模块 通讯电路 数字信号处理模块 波形整形电路 信号调理电路 测试成本 测试电路 电压参数 电压输出 电子器件 构造空间 精密电压 时间参数 时间测量 芯片 测试 输出
【主权项】:
1.一种精密测量板卡,其特征在于,包括集成在一块板卡上的高速高精度精密测量模块、高精度时间测量模块、数字信号处理模块、精密电压源输出模块、通讯电路和FPGA,所述高速高精度精密测量模块与所述FPGA连接、用于精密测量被测电路的电压参数,所述高精度时间测量模块与所述FPGA连接、用于对电子器件的时间参数进行精密测量,所述高精度时间测量模块包括信号调理电路、波形整形电路和TDC时间测量芯片,所述信号调理电路的输入端连接所述被测电路的被测量端、用于接收所述被测电路传入的波形触发信号,所述波形整形电路的输入端与所述信号调理电路的输出端连接、用于将所述波形触发信号整形形成脉冲沿,所述TDC时间测量芯片的输入端与所述波形整形电路的输出端连接、用于采用TDC数字测量方法对电子器件的时间参数进行精密测量,所述TDC时间测量芯片的输出端与所述FPGA连接,所述数字信号处理模块与所述FPGA连接,所述精密电压源输出模块与所述FPGA连接、用于为所述被测电路提供电压输出,所述通讯电路与所述FPGA连接。
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