[发明专利]基带芯片性能的测试方法和装置

摘要

本发明提供一种基带芯片性能的测试方法和装置，该方法包括：在待测试基带芯片追踪到预设卫星时，采集预设时间段内待测试基带芯片的工作电压值和工作电流值以及待测试基带芯片输出的位置信息，位置信息为船舶按照预设航线在预设时间段内行驶时待测试基带芯片输出的不同时刻的船舶的位置坐标信息；根据待测试基带芯片的工作电压值和工作电流值，获取待测试基带芯片的功耗；根据位置信息和预设航线中的位置信息，获取待测试基带芯片的定位精度。本发明在获取基带芯片正常追踪卫星时的功耗及定位性能，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。

主权项

1.一种基带芯片性能的测试方法，其特征在于，待测试基带芯片设置于测试板上，所述测试板设置于船舶上；所述方法包括：在所述待测试基带芯片追踪到预设卫星时，采集预设时间段内所述待测试基带芯片的工作电压值和工作电流值以及所述待测试基带芯片输出的位置信息，所述位置信息为所述船舶按照预设航线在所述预设时间段内行驶时所述待测试基带芯片输出的不同时刻的所述船舶的位置坐标信息；根据所述待测试基带芯片的所述工作电压值和工作电流值，获取所述待测试基带芯片的功耗；根据所述位置信息和所述预设航线中的位置信息，获取所述待测试基带芯片的定位精度。