[发明专利]一种旋转式激光轮廓测量方法、存储装置及其测量装置在审

专利信息
申请号: 201810102154.X 申请日: 2018-02-01
公开(公告)号: CN108007353A 公开(公告)日: 2018-05-08
发明(设计)人: 王险峰;李陶然;李大望;李龙元;韩宁旭;邢锋 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/24;G01B11/30
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 王永文;刘文求
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种旋转式激光轮廓测量方法、存储装置及其测量装置,包括如下步骤:检测主机分别开启数据采集器和激光测距仪,并控制旋转底座以预定转速带动试件转动;激光测距仪对试件进行点扫信息采集,记录试件在当前平面各个轮廓检测点的测量数据;旋转底座旋转一周后,激光测距仪沿支架上升预定高度,并重新对试件进行新高度平面的点扫信息采集,记录试件在新高度平面的各个轮廓检测点的测量数据;依次重复上述步骤,直至完成对试件各高度平面的点扫信息采集;通过试件的各高度平面的各个轮廓检测点的测量数据,计算得到试件的形状。本发明不仅避免测量中对试件尺寸的限制,还可更加全面精确的测量出试件的轮廓、表面粗糙度等数据。
搜索关键词: 一种 旋转 激光 轮廓 测量方法 存储 装置 及其 测量
【主权项】:
1.一种旋转式激光轮廓测量方法,其特征在于,包括如下步骤:检测主机分别开启数据采集器和激光测距仪,并控制旋转底座以预定转速带动试件转动;激光测距仪对试件进行点扫信息采集,记录试件在当前平面各个轮廓检测点的测量数据;旋转底座旋转一周后,激光测距仪沿支架上升预定高度,并重新对试件进行新高度平面的点扫信息采集,记录试件在新高度平面的各个轮廓检测点的测量数据;依次重复上述步骤,直至完成对试件各高度平面的点扫信息采集;通过试件的各高度平面的各个轮廓检测点的测量数据,计算得到试件的形状。
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